Александров А. А., & Свиридов В. В. (1966). Измерение толщины тонких пленок и покрытий: сост. Александров А. А., Свиридов В. В. Москва ЦНИИ техн.-экон. исслед. и науч. информ. 1966.
Chicago-стиль цитированияАлександров А. А., and Свиридов В. В. Измерение толщины тонких пленок и покрытий: сост. Александров А. А., Свиридов В. В. Москва ЦНИИ техн.-экон. исслед. и науч. информ. 1966, 1966.
MLA-цитированиеАлександров А. А., and Свиридов В. В. Измерение толщины тонких пленок и покрытий: сост. Александров А. А., Свиридов В. В. Москва ЦНИИ техн.-экон. исслед. и науч. информ. 1966, 1966.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.