Сих М. П., Бриггс Д., & Ривьер Дж. К. (1987). Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: [Сих М. П. и др.] ; под ред. Д. Бриггса, С. П. Сиха ; пер. с англ. под ред. В. И. Раховского, И. С. Реза. Москва Мир 1987.
Chicago-стиль цитированияСих М. П., Бриггс Д, and Ривьер Дж. К. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: [Сих М. П. и др.] ; под ред. Д. Бриггса, С. П. Сиха ; пер. с англ. под ред. В. И. Раховского, И. С. Реза. Москва Мир 1987, 1987.
MLA-цитированиеСих М. П., Бриггс Д, and Ривьер Дж. К. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: [Сих М. П. и др.] ; под ред. Д. Бриггса, С. П. Сиха ; пер. с англ. под ред. В. И. Раховского, И. С. Реза. Москва Мир 1987, 1987.