Фелдман Л., & Майер Дж. (1989). Основы анализа поверхности и тонких пленок: Л. Фелдман, Д. Майер. Москва Мир 1989.
Chicago-стиль цитированияФелдман Л., and Майер Дж. Основы анализа поверхности и тонких пленок: Л. Фелдман, Д. Майер. Москва Мир 1989, 1989.
MLA-цитированиеФелдман Л., and Майер Дж. Основы анализа поверхности и тонких пленок: Л. Фелдман, Д. Майер. Москва Мир 1989, 1989.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.