Шелковников Е. Ю. (2000). Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов: Шелковников Евгений Юрьевич. Ижевск 2000.
Chicago-стиль цитированияШелковников Е. Ю. Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов: Шелковников Евгений Юрьевич. Ижевск 2000, 2000.
MLA-цитированиеШелковников Е. Ю. Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов: Шелковников Евгений Юрьевич. Ижевск 2000, 2000.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.