Тюриков А. В. (2004). Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов: Тюриков Александр Валерьевич. Ижевск 2004.
Chicago-стиль цитированияТюриков А. В. Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов: Тюриков Александр Валерьевич. Ижевск 2004, 2004.
MLA-цитированиеТюриков А. В. Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов: Тюриков Александр Валерьевич. Ижевск 2004, 2004.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.