Тюриков, А. В. (2004). Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов.
Chicago-стиль цитированияТюриков, Александр Валерьевич. Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов. 2004.
MLA-цитированиеТюриков, Александр Валерьевич. Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов. 2004.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.