APA Цитирование

Шелковников, Е. Ю. (2000). Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов.

Chicago-стиль цитирования

Шелковников, Евгений Юрьевич. Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов. 2000.

MLA-цитирование

Шелковников, Евгений Юрьевич. Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов. 2000.

Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.