Пропуск в контексте
Toggle navigation
Eдиный поиск по ресурсам
Оставить отзыв
Профиль
Выход
Логин
Язык
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
НЭБ УР
Интернет-проекты
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
ISBN/ISSN
Ключевые слова
Fulltext
Найти
Расширенный поиск
Автоматизированный тестовой ко...
Описание
Цитировать
Отправить на Email
Добавить в Избранное
Заказать по ЭДД
Автоматизированный тестовой контроль производства БИС С. С. Булгаков, Д. Б. Десятов, С. А. Еремин, В. В. Сысоев
Сохранить в:
Библиографические подробности
Другие авторы:
Булгаков С. С.
,
Десятов Д. Б.
,
Еремин С. А.
,
Сысоев В. В.
Тип документа:
Книга
Язык:
Russian
Год издания:
Москва Радио и связь 1992
Рубрика:
Производство
Технический контроль автоматический
Микроэлектронные схемы интегральные большие
Ключевые слова:
Микроэлектронные схемы интегральные большие Производство Технический контроль автоматический
Технический контроль автоматический Микроэлектронные схемы интегральные большие Производство
Фонды
Описание
Комментарии
Схожие документы
Marc-запись
5-256-00613-4
Схожие документы
Контроль в технологии микроэлектроники
Автор: Колешко В. М.
Год издания: (1979)
Методы повышения параметров БИС
Автор: Деркач В. П.
Год издания: (1986)
Тестовый контроль микропроцессорных БИС на производстве
Год издания: (1989)
Быстродействующие матричные БИС и СБИС. Теория и проектирование
Год издания: (1989)
Логические ИС
Год издания: (1993)
×
Загрузка...