Точечные дефекты в полупроводниках Ж. Бургуэн, М. Ланно

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Бургуэн Ж.
Другие авторы: Ланно М.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
English
Год издания: Москва Мир 1985
Рубрика:
Ключевые слова:
LEADER 01217nam0a2200289 i 4500
001 0E76BD1E-2B25-4454-B363-B5D6F89EEC06
010 |d р.2.70 
100 |a 20130204d1985 |||y0rusy02 ca 
101 1 |a rus  |c eng 
102 |a RU 
105 |a a ||||000zy 
200 1 |a Точечные дефекты в полупроводниках  |e эксперим. аспекты  |f Ж. Бургуэн, М. Ланно  |g пер. с англ. Ю. М. Гальперина [и др.]; под ред. [и с предисл.] В. Л. Гуревича 
210 |a Москва  |c Мир  |d 1985 
215 |a 304с.  |c ил.  |d 21 см 
320 |a Библиогр.: с. 9 (19 назв.), 289-297. - Предм. указ.: 298-300 
454 0 |1 7001   |a Bourgoin J.  |1 7011   |a Lannoo M.  |1 2001   |a Point defects in semiconductors  |1 2101   |a Berlin  |d 1983 
606 |a Полупроводники  |x Дефекты точечные 
686 |a 22  |2 rubbk 
686 |a 29.19  |2 rugasnti 
700 1 |a Бургуэн  |b Ж.  |g Жак 
701 1 |a Ланно  |b М.  |g Мишель 
702 1 |a Гальперин  |b Ю. М.  |4 730 
702 1 |a Гкревич  |b В. Л.  |4 340 
801 0 |b ГПНТБ России  |a RU  |c 20130204