Пропуск в контексте
Toggle navigation
Eдиный поиск по ресурсам
Оставить отзыв
Профиль
Выход
Логин
Язык
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
НЭБ УР
Интернет-проекты
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
ISBN/ISSN
Ключевые слова
Fulltext
Найти
Расширенный поиск
Контроль качества и надежность...
Комментарии
Цитировать
Отправить на Email
Добавить в Избранное
Заказать по ЭДД
Контроль качества и надежность микросхем З. Ю. Готра, И. М. Николаев
Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор:
Готра З. Ю.
Другие авторы:
Николаев И. М.
Тип документа:
Книга
Язык:
Russian
Год издания:
Москва Радио и связь 1989
Рубрика:
Качество
Ключевые слова:
Микроэлектронные схемы интегральные Качество
Фонды
Описание
Комментарии
Схожие документы
Marc-запись
Ваш комментарий будет первым!
Ваш комментарий
Сначала войдите в систему
Схожие документы
Применение прецизионных аналоговых микросхем
Автор: Алексенко А. Г.
Год издания: (1985)
Системы технологического обеспечения качества компонентов микроэлектронной аппаратуры
Автор: Власов В. Е.
Год издания: (1987)
Конструкции и технология микросхем (ГИС и БГИС)
Автор: Ермолаев Ю. П.
Год издания: (1980)
Технология микросхем
Автор: Парфенов О. Д.
Год издания: (1986)
Справочник сборщика микросхем
Автор: Минскер Ф. Е.
Год издания: (1992)
×
Загрузка...