Описание: Тестовый контроль микропроцессорных БИС на производстве

Сохранить в:

Библиографические подробности
Другие авторы:	Ясинявичене Г. М., Бургис Б. В., Мецаев Е. А., Гребликас И.-А. К.
Тип документа:	Книга
Язык:	Russian
Год издания:	Москва Радио и связь 1989
Рубрика:	Контроль
Ключевые слова:	Тесты Микроэлектронные схемы интегральные большие Контроль

5-256-00291-0