Микроскопические методы исследования материалов Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхард ; пер. с англ. С. Л. Баженова
Сохранить в:
Автор: | Кларк Э. Р. |
---|---|
Другие авторы: | Эберхард К. Н. |
Тип документа: | Книга |
Язык: | Russian |
Год издания: |
Москва Техносфера 2007
|
Предметная рубрика: | |
Рубрика: | |
Ключевые слова: |
Схожие документы
-
Электронно-зондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов
Автор: Конников С. Г.
Год издания: (1978) -
Методы обработки оптических сигналов в системах связи
Автор: Волков В. Ю.
Год издания: (1987) -
Голографические неразрушающие исследования
Год издания: (1979) -
Разработка устройств для исследования локальной химической структуры поверхности материалов методом химической силовой микроскопии
Автор: Жихарев А. В.
Год издания: (2015)) -
Разработка устройств для исследования локальной химической структуры поверхности материалов методом химической силовой микроскопии
Автор: Жихарев А. В.
Год издания: (2004)