Описание: Основы метрологии и теории точности измерительных устройств

Сохранить в:

Библиографические подробности
Автор:	Коротков В. П.
Другие авторы:	Тайц Б. А.
Тип документа:	Книга
Язык:	Russian
Год издания:	Москва Издательство стандартов 1978
Рубрика:	Точность
Ключевые слова:	Метрология Измерительные устройства Точность

Недоступно описание.