|
|
|
|
LEADER |
01012nam0a2200253 i 4500 |
001 |
A758851F-C028-4561-9F43-9A20C8F5F4C1 |
010 |
|
|
|a 5-02-006981-7
|d р.120.00
|
100 |
|
|
|a 20081111d1993 |||y0rusy02 ca
|
101 |
0 |
|
|a rus
|
102 |
|
|
|a RU
|
105 |
|
|
|a a ||||000zy
|
200 |
1 |
|
|a Диагностика микроэлектронных структур
|f отв. ред. А. М. Афанасьев
|
210 |
|
|
|a Москва
|c Наука
|d 1993
|
215 |
|
|
|a 110, [2]с.
|c ил.
|d 24 см
|
225 |
2 |
|
|a Тр. ФТИАН
|f РАН, физ.-технол. ин-т ; гл. ред. К. А. Валиев
|v т. 5
|
320 |
|
|
|a Библиогр. в конце ст.
|
606 |
|
|
|a Микроэлектронные схемы интегральные
|x Техническая диагностика
|
686 |
|
|
|a 32.844.1
|2 rubbk
|
686 |
|
|
|a 47
|2 rugasnti
|
702 |
|
1 |
|a Афанасьев
|b А. М.
|g Александр Михайлович
|4 340
|
801 |
|
0 |
|b ГПНТБ России
|a RU
|c 20081111
|