Описание: Рентгенодифракционные исследования нанокомпозитных тонких пленок. Программные методы

Сохранить в:

Библиографические подробности
Другие авторы:	Алалыкин А. С., Алалыкин С. С., Закирова Р. М., Крылов П. Н.
Тип документа:	Книга
Язык:	Russian
Год издания:	Ижевск Удмуртский университет 2009
Предметная рубрика:	уширение цифровая фильтрация аппроксимация преобразования Фурье Вейвлет-анализ программно-аппаратный комплекс дифрактометрия нанокомпозиты
Рубрика:	Исследование Рентгеновские методы
Ключевые слова:	Тонкие пленки Исследование Рентгеновские методы

Недоступно описание.