Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов Шелковников Евгений Юрьевич
Сохранить в:
| Автор: | |
|---|---|
| Тип документа: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Год издания: |
Ижевск 2000
|
| Предметная рубрика: | |
| Ключевые слова: |