Пропуск в контексте
Toggle navigation
Eдиный поиск по ресурсам
Оставить отзыв
Профиль
Выход
Логин
Язык
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
НЭБ УР
Интернет-проекты
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
ISBN/ISSN
Ключевые слова
Fulltext
Найти
Расширенный поиск
Пути повышения стабильности и...
Комментарии
Цитировать
Отправить на Email
Добавить в Избранное
Заказать по ЭДД
Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем ред. П. Т. Орешкин
Сохранить в:
Библиографические подробности
Тип документа:
Книга
Язык:
Russian
Год издания:
Рязань РРТИ 1988
Фонды
Описание
Комментарии
Схожие документы
Marc-запись
Ваш комментарий будет первым!
Ваш комментарий
Сначала войдите в систему
Схожие документы
Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем
Год издания: (1988)
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем
Автор: Глудкин О. П.
Год издания: (1980)
Концентрирование микроэлементов
Автор: Золотов Ю. А.
Год издания: (1982)
Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Автор: Чернышев А. А.
Год издания: (1988)
Пути повышения надежности и долговечности автотракторных двигателей
Автор: Демьянов Л. А.
Год издания: (1967)
×
Загрузка...