Разработка и исследование технологического и аппаратурного обеспечения сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов Кизнерцев Станислав Рафаилович
Сохранить в:
Автор: | Кизнерцев С. Р. |
---|---|
Тип документа: | Книга |
Язык: | Russian |
Год издания: |
Ижевск 2004
|
Предметная рубрика: | |
Ключевые слова: |
Схожие документы
-
Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
Автор: Шелковников Е. Ю.
Год издания: (2000) -
Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
Автор: Шелковников Е. Ю.
Год издания: (2000) -
Разработка и исследование технологического и аппаратурного обеспечения сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
Автор: Кизнерцев, Станислав Рафаилович
Год издания: (2004) -
Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов
Автор: Тюриков А. В.
Год издания: (2004) -
Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
Автор: Шелковников, Евгений Юрьевич
Год издания: (2000)