Комментарии: Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем

Сохранить в:

Библиографические подробности
Автор:	Чернышев А. А.
Тип документа:	Книга
Язык:	Russian
Год издания:	Москва Радио и связь 1988
Рубрика:	Надежность
Ключевые слова:	Полупроводниковые приборы Надежность Микроэлектронные схемы интегральные Надежность

Ваш комментарий будет первым!