Теоретические основы квалиметрического мониторинга качества подготовки в системе "профильная школа-втуз" Ю. А. Шихов

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Шихов Ю. А.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Екатеринбург Ижевск Фирма "Стикс" 2007
Ключевые слова:
LEADER 01766nam0a2200289 i 4500
001 D710C2CF-DB47-4756-91D9-BE1B1A399FB1
010 |a 5-87445-047-5 
100 |a 20080916d2007 m y0rusy02 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 000#y 
200 1 |a Теоретические основы квалиметрического мониторинга качества подготовки в системе "профильная школа-втуз"  |e монография  |f Ю. А. Шихов  |g Министерство образования и науки Российской Федерации, Уральское отделение Российской академии образования, Ижевский филиал  
210 |a Екатеринбург  |a Ижевск  |c Фирма "Стикс"  |d 2007 
215 |a 141с.  |c ил.  |d 21 см 
320 |a Библиография: с. 119-135 (176 названий) 
606 |a Профильное обучение в средней школе 
686 |a 74.202.42  |2 rubbk 
686 |a 14  |2 rugasnti 
700 1 |a Шихов  |b Ю. А.  |g Юрий Александрович 
711 0 2 |a Российская Федерация  |b Министерство образования и науки 
711 0 2 |a Российская академия образования  |b Уральское отделение. Ижевский филиал 
712 0 2 |a Российская Федерация  |b Министерство образования и науки 
712 0 2 |a Российская академия образования  |b Уральское отделение. Ижевский филиал 
801 0 |b ГПНТБ России  |a RU  |c 20080916