Разработка и исследование технологического и аппаратурного обеспечения сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
Сохранить в:
Автор: | Кизнерцев, Станислав Рафаилович |
---|---|
Тип документа: | Автореферат |
Язык: | Russian |
Год издания: |
2004
|
Online-ссылка: | http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/25306 |
Ключевые слова: |
Схожие документы
-
Разработка и исследование технологического и аппаратурного обеспечения сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
Автор: Кизнерцев С. Р.
Год издания: (2004) -
Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
Автор: Шелковников Е. Ю.
Год издания: (2000) -
Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
Автор: Шелковников Е. Ю.
Год издания: (2000) -
Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
Автор: Шелковников, Евгений Юрьевич
Год издания: (2000) -
Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов
Автор: Шелковников, Евгений Юрьевич
Год издания: (2000)