Квалиметрический мониторинг качества фундаментальной подготовки в техническом вузе

В работе рассматриваются проблемы фундаментализации высшего технического образования на примере системы «профильная школа-втуз» и ее подсистем. Представлена квалиметрическая технология мониторинга качества фундаментальной подготовки, включающей в качестве одного из этапов маркетинговые исследования...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Шихов, Юрий Александрович
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Исследовательский центр проблем качества подготовки специалистов 2007
Online-ссылка:http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/25489
Ключевые слова:
В работе рассматриваются проблемы фундаментализации высшего технического образования на примере системы «профильная школа-втуз» и ее подсистем. Представлена квалиметрическая технология мониторинга качества фундаментальной подготовки, включающей в качестве одного из этапов маркетинговые исследования в системе профильного обучения и высшего технического образования.