Теоретические основы квалиметрического мониторинга качества подготовки в системе "профильная школа-втуз"

В работе рассматриваются особенности и концептуальные подходы к проектированию квалиметрического мониторинга качества подготовки в системе «профильная школа-втуз», а также вопросы его организации и квалиметрического обеспечения....

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Шихов, Юрий Александрович
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Стикс 2007
Online-ссылка:http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/25687
Ключевые слова:

Схожие документы