Окунев, А. О., & Шульпина, И. Л. (2009). Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста.
Chicago-стиль цитированияОкунев, Алексей Олегович, and Ирэн Леонидовна Шульпина. Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста. 2009.
MLA-цитированиеОкунев, Алексей Олегович, and Ирэн Леонидовна Шульпина. Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста. 2009.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.