Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом...

Автор Шелковников, Евгений Юрьевич
Год издания 2008

Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом...

Автор Шелковников, Евгений Юрьевич
Год издания 2008

Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов...

Автор Шелковников, Евгений Юрьевич
Год издания 2000

Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов...

Автор Шелковников, Евгений Юрьевич
Год издания 2000