Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Шелковников, Евгений Юрьевич
Тип документа: Автореферат
Язык:Russian
Год издания: 2008
Online-ссылка:http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/26206
Ключевые слова: