Методы оценки и оптимизации конструкторско-технологических характеристик качества микроэлектронной и электронно-вычислительной аппаратуры А. В. Фомин, О. Н. Умрихин
Сохранить в:
| Автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | |
| Тип документа: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Год издания: |
Москва Издательство МАИ 1989
|
Недоступно описание.