Методы оценки и оптимизации конструкторско-технологических характеристик качества микроэлектронной и электронно-вычислительной аппаратуры А. В. Фомин, О. Н. Умрихин

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Фомин А. В.
Другие авторы: Умрихин О. Н.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Москва Издательство МАИ 1989
LEADER 00894nam0a2200229 i 4500
001 11BABFCE-C438-4120-A14C-8A24D1A74726
010 |d р.0.15 
100 |a 20081113d1989 |||y0rusy02 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a y j 000#y 
200 1 |a Методы оценки и оптимизации конструкторско-технологических характеристик качества микроэлектронной и электронно-вычислительной аппаратуры  |e учеб. пособие  |f А. В. Фомин, О. Н. Умрихин 
210 |a Москва  |c Издательство МАИ  |d 1989 
215 |a 66с. 
686 |a 32.84-02  |2 rubbk 
686 |a 47  |2 rugasnti 
700 1 |a Фомин  |b А. В. 
701 1 |a Умрихин  |b О. Н. 
801 0 |b ГПНТБ России  |a RU  |c 20081113