|
|
|
|
| LEADER |
02697nam0a2200373 i 4500 |
| 001 |
4687E520-B88A-40AF-9692-0AC887DC157F |
| 100 |
|
|
|a 20190930d2004 k y0rusy02
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a a m 000#y
|
| 200 |
1 |
|
|a Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов
|e автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : специальности: 05.11.14 - технология приборостроения, 05.11.13 - приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий
|f Тюриков Александр Валерьевич
|g научный руководитель: Липанов Алексей Матвеевич ; научный консультант: Шелковников Евгений Юрьевич ; Институт прикладной механики УрО РАН
|
| 210 |
|
|
|a Ижевск
|d 2004
|
| 215 |
|
|
|a 20с.
|c рис.
|d 21 см
|
| 300 |
|
|
|a На правах рукописи
|
| 320 |
|
|
|a Библиография: с. 19-20 (18 названий)
|
| 328 |
|
|
|a Автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: 05.11.1405.11.13, 05.11.13. -Защищена 24.12.2004
|
| 606 |
|
|
|a Электронная микроскопия
|
| 606 |
|
|
|a Электронные приборы
|
| 610 |
1 |
|
|a кластерные материалы
|
| 610 |
1 |
|
|a наноструктура
|
| 610 |
1 |
|
|a приборостроение
|
| 686 |
|
|
|a 22.338.4
|a 32.85
|2 rubbk
|
| 686 |
|
|
|a 29
|2 rugasnti
|
| 700 |
|
1 |
|a Тюриков
|b А. В.
|g Александр Валерьевич
|
| 702 |
|
1 |
|a Липанов
|b А. М.
|g Алексей Матвеевич
|4 727
|
| 702 |
|
1 |
|a Шелковников
|b Е. Ю.
|g Евгений Юрьевич
|4 695
|
| 711 |
0 |
2 |
|a Институт прикладной механики
|c (Ижевск)
|
| 711 |
0 |
2 |
|a Российская академия наук
|b Уральское отделение
|
| 712 |
0 |
2 |
|a Институт прикладной механики
|c (Ижевск)
|
| 712 |
0 |
2 |
|a Российская академия наук
|b Уральское отделение
|
| 801 |
|
0 |
|b ГПНТБ России
|a RU
|c 20190930
|
