Пропуск в контексте
Toggle navigation
Eдиный поиск по ресурсам
Оставить отзыв
Профиль
Выход
Логин
Язык
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
НЭБ УР
Интернет-проекты
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
ISBN/ISSN
Ключевые слова
Fulltext
Найти
Расширенный поиск
Испытание и исследование полуп...
Описание
Цитировать
Отправить на Email
Добавить в Избранное
Заказать по ЭДД
Испытание и исследование полупроводниковых приборов В. Л. Аронов, Я. А. Федотов
Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор:
Аронов В. Л.
Другие авторы:
Федотов Я. А.
Тип документа:
Книга
Язык:
Russian
Год издания:
Москва Высшая школа 1975
Рубрика:
Испытание на надежность
Параметры
Измерение
Ключевые слова:
Полупроводниковые приборы Испытание на надежность
Полупроводниковые приборы Параметры Измерение
Фонды
Описание
Комментарии
Схожие документы
Marc-запись
Недоступно описание.
Схожие документы
Автоматизация измерений параметров полупроводниковых приборов
Год издания: (1963)
Электронные измерения и измерение параметров полупроводниковых приборов
Автор: Криштафович А. К.
Год издания: (1974)
Электронные измерения и измерение параметров полупроводниковых приборов
Автор: Криштафович А. К.
Год издания: (1969)
Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур
Автор: Батавин В. В.
Год издания: (1985)
Свойства полупроводниковых приборов при длительной работе и хранении
Автор: Горюнов Н. Н.
Год издания: (1970)
×
Загрузка...