|
|
|
|
| LEADER |
01181nam0a2200265 i 4500 |
| 001 |
4CB6F783-C05A-43EA-A955-EE2EA8AB3128 |
| 010 |
|
|
|d р.0.95
|
| 100 |
|
|
|a 20120525d1975 m y0rusy02
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a a j 000#y
|
| 200 |
1 |
|
|a Испытание и исследование полупроводниковых приборов
|e [учеб. пособие для вузов по специальностям полупроводниковой техники]
|f В. Л. Аронов, Я. А. Федотов
|
| 210 |
|
|
|a Москва
|c Высшая школа
|d 1975
|
| 215 |
|
|
|a 325с.
|c черт.
|d 22 см
|
| 320 |
|
|
|a Библиогр.: с. 320-322 (36 назв.)
|
| 606 |
|
|
|a Полупроводниковые приборы
|x Испытание на надежность
|
| 606 |
|
|
|a Полупроводниковые приборы
|x Параметры
|x Измерение
|
| 686 |
|
|
|a 32
|2 rubbk
|
| 686 |
|
|
|a 47
|2 rugasnti
|
| 700 |
|
1 |
|a Аронов
|b В. Л.
|g Вадим Львович
|
| 701 |
|
1 |
|a Федотов
|b Я. А.
|g Яков Андреевич
|
| 801 |
|
0 |
|b ГПНТБ России
|a RU
|c 20120525
|
