Описание: Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем

Сохранить в:

Библиографические подробности
Автор:	Глудкин О. П.
Тип документа:	Книга
Язык:	Russian
Год издания:	Москва Энергия 1980
Рубрика:	Испытание
Ключевые слова:	Радиоэлектронная аппаратура на интегральных микросхемах Испытание

Недоступно описание.