Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем О. П. Глудкин, В. Н. Черняев

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Глудкин О. П.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Москва Энергия 1980
Рубрика:
Ключевые слова:
LEADER 01123nam0a2200241 i 4500
001 5946BA64-34A2-4BB1-AF43-960143E34A75
010 |d р.1.00 
100 |a 20151013d1980 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a j 000#y 
200 1 |a Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем  |e [учебное пособие для приборостроительных специальных вузов]  |f О. П. Глудкин, В. Н. Черняев 
210 |a Москва  |c Энергия  |d 1980 
215 |a 360с.  |c ил.  |d 21 см 
320 |a Библиогр.: с. 355 (19 назв.). - Предм. указ..: с. 356-357 
606 |a Радиоэлектронная аппаратура на интегральных микросхемах  |x Испытание 
686 |a 32  |2 rubbk 
686 |a 47.09.99  |2 rugasnti 
700 1 |a Глудкин  |b О. П.  |g Олег Павлович 
801 0 |b ГПНТБ России  |a RU  |c 20151013