|
|
|
|
| LEADER |
00965nam0a2200241 i 4500 |
| 001 |
5958CFBF-5244-4D17-A53A-D33B0D6BF73D |
| 010 |
|
|
|a 5-02-006639-7
|d р.1.40
|
| 100 |
|
|
|a 20081113d1989 |||y0rusy02 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a a ||||000zy
|
| 200 |
1 |
|
|a Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
|f В. Л. Воробьев
|
| 210 |
|
|
|a Москва
|c Наука
|d 1989
|
| 215 |
|
|
|a 159с.
|c ил.
|d 22 см
|
| 320 |
|
|
|a Библиогр.: с. 155-157 (50 назв.)
|
| 606 |
|
|
|a Микроэлектронная аппаратура
|x Надежность
|x Термодинамические исследования
|
| 686 |
|
|
|a 32.844.1
|2 rubbk
|
| 686 |
|
|
|a 47
|2 rugasnti
|
| 700 |
|
1 |
|a Воробьев
|b В. Л.
|g Владимир Леонидович
|
| 801 |
|
0 |
|b ГПНТБ России
|a RU
|c 20081113
|
