Пропуск в контексте
Toggle navigation
Eдиный поиск по ресурсам
Оставить отзыв
Профиль
Выход
Логин
Язык
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
НЭБ УР
Интернет-проекты
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
ISBN/ISSN
Ключевые слова
Fulltext
Найти
Расширенный поиск
Термодинамические основы диагн...
Комментарии
Цитировать
Отправить на Email
Добавить в Избранное
Заказать по ЭДД
Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств В. Л. Воробьев
Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор:
Воробьев В. Л.
Тип документа:
Книга
Язык:
Russian
Год издания:
Москва Наука 1989
Рубрика:
Надежность
Термодинамические исследования
Ключевые слова:
Микроэлектронная аппаратура Надежность Термодинамические исследования
Фонды
Описание
Комментарии
Схожие документы
Marc-запись
Ваш комментарий будет первым!
Ваш комментарий
Сначала войдите в систему
Схожие документы
Технология микроэлектронных устройств
Автор: Готра З. Ю.
Год издания: (1991)
Обеспечение безотказности микроэлектронной радиоаппаратуры на этапе производства
Автор: Литвинский И. Е.
Год издания: (1989)
Разработка методов формирования и защиты поверхности токопроводящих слоев для неразъемных соединений элементов микроэлектронных приборов
Автор: Мирсаетов О. М.
Год издания: (2000)
Основы микроэлектроники
Автор: Степаненко И. П.
Год издания: (1980)
Цифровые устройства на интегральных микросхемах
Автор: Бирюков С. А.
Год издания: (1991)
×
Загрузка...
