Пропуск в контексте
Toggle navigation
Eдиный поиск по ресурсам
Оставить отзыв
Профиль
Выход
Логин
Язык
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
НЭБ УР
Интернет-проекты
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
ISBN/ISSN
Ключевые слова
Fulltext
Найти
Расширенный поиск
Надежность твердых интегральны...
Описание
Цитировать
Отправить на Email
Добавить в Избранное
Заказать по ЭДД
Надежность твердых интегральных схем И. Е. Ефимов, И. Г. Кальман, В. И. Мартынов
Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор:
Ефимов И. Е.
Другие авторы:
Кальман И. Г.
,
Мартынов В. И.
Тип документа:
Книга
Язык:
Russian
Год издания:
Москва Издательство стандартов 1979
Рубрика:
Надежность
Ключевые слова:
Микроэлектронные схемы интегральные твердые Надежность
Фонды
Описание
Комментарии
Схожие документы
Marc-запись
Недоступно описание.
Схожие документы
Технология, проектирование и надежность интегральных полупроводниковых схем
Год издания: (1988)
Применение интегральных схем
Год издания: (1987)
Применение интегральных схем
Год издания: (1987)
Элементы интегральных схем
Автор: Маллер Р.
Год издания: (1989)
Анализ и расчет интегральных схем
Год издания: (1969)
×
Загрузка...