Надежность твердых интегральных схем И. Е. Ефимов, И. Г. Кальман, В. И. Мартынов

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Ефимов И. Е.
Другие авторы: Кальман И. Г., Мартынов В. И.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Москва Издательство стандартов 1979
Рубрика:
Ключевые слова:
LEADER 01300nam0a2200289 i 4500
001 6CC187F3-31AC-43B3-9BFE-19CFA751DE54
010 |d р.0.95 
100 |a 20170225d1979 k y0rusy02 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 000#y 
200 1 |a Надежность твердых интегральных схем  |f И. Е. Ефимов, И. Г. Кальман, В. И. Мартынов 
205 |a 2-е издание, исправленное и дополненное 
210 |a Москва  |c Издательство стандартов  |d 1979 
215 |a 216с.  |c ил.  |d 21 см 
300 |a Заглавие 1-го издания: Надежность интегральных полупроводниковых схем 
320 |a Библиография: с. 210-215 (186 названий) 
606 |a Микроэлектронные схемы интегральные твердые  |x Надежность 
686 |a 32  |2 rubbk 
686 |a 47  |2 rugasnti 
700 1 |a Ефимов  |b И. Е.  |g Иван Ефимович 
701 1 |a Кальман  |b И. Г.  |g Игорь Георгиевич 
701 1 |a Мартынов  |b В. И.  |g Владимир Иванович 
801 0 |b ГПНТБ России  |a RU  |c 20170225