Измерения и контроль в микроэлектронике Дубовой Н. Д. [и др.]
Сохранить в:
Другие авторы: | Дубовой Н. Д., Осокин В. И., Очков А. С. |
---|---|
Тип документа: | Книга |
Язык: | Russian |
Год издания: |
Москва Высшая школа 1984
|
Рубрика: | |
Ключевые слова: |
Схожие документы
-
Физические основы субмикронной литографии в микроэлектронике
Автор: Валиев К. А.
Год издания: (1984) -
Технология обработки поверхностей в микроэлектронике
Автор: Полтавцев Ю. Г.
Год издания: (1990) -
Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве
Автор: Быстров Ю. А.
Год издания: (1988) -
Тестовый контроль микропроцессорных БИС на производстве
Год издания: (1989) -
Контроль в технологии микроэлектроники
Автор: Колешко В. М.
Год издания: (1979)