Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии Р. З. Валиев, А. Н. Вергазов, В. Ю. Герцман
Сохранить в:
Автор: | Валиев Р. З. |
---|---|
Другие авторы: | Вергазов А. Н., Герцман В. Ю. |
Тип документа: | Книга |
Язык: | Russian |
Год издания: |
Москва Наука 1991
|
Ключевые слова: |
Схожие документы
-
Основы аналитической электронной микроскопии
Год издания: (1990) -
Материалы IX Всесоюзной конференции по электронной микроскопии
Год издания: (1973) -
Вопросы электронной микроскопии тканей
Год издания: (1959) -
Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия
Год издания: (1982) -
Структурное исследование минералов методами микродифракции электронов и электронной микроскопии высокого разрешения
Автор: Дриц В. А.
Год издания: (1981)