Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии Р. З. Валиев, А. Н. Вергазов, В. Ю. Герцман
Сохранить в:
| Автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | , |
| Тип документа: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Год издания: |
Москва Наука 1991
|
| Ключевые слова: |
Ваш комментарий будет первым!