Пропуск в контексте
Toggle navigation
Eдиный поиск по ресурсам
Оставить отзыв
Профиль
Выход
Логин
Язык
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
НЭБ УР
Интернет-проекты
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
ISBN/ISSN
Ключевые слова
Fulltext
Найти
Расширенный поиск
Методы измерения основных пара...
Описание
Цитировать
Отправить на Email
Добавить в Избранное
Заказать по ЭДД
Методы измерения основных параметров полупроводников С. И. Рембеза
Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор:
Рембеза С. И.
Тип документа:
Книга
Язык:
Russian
Год издания:
Воронеж Издательство Воронежского университета 1989
Рубрика:
Параметры
Измерение
Ключевые слова:
Полупроводники Параметры Измерение
Фонды
Описание
Комментарии
Схожие документы
Marc-запись
5-7455-0132-4
Схожие документы
Вольт-фарадные измерения параметров полупроводников
Автор: Георгиу В. Г.
Год издания: (1987)
Методы измерения параметров полупроводниковых материалов
Автор: Павлов Л. П.
Год издания: (1987)
Измерения параметров полупроводниковых материалов
Автор: Ковтонюк Н. Ф.
Год издания: (1970)
Контроль параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев
Автор: Батавин В. В.
Год издания: (1976)
Конспект лекций по курсу "Методы испытания полупроводниковых материалов"
Автор: Воронков Э. Н.
Год издания: (1972)
×
Загрузка...