|
|
|
|
| LEADER |
01145nam0a2200253 i 4500 |
| 001 |
A2AA44AD-E690-4DAE-B71B-DE5E0966A627 |
| 010 |
|
|
|a 5-7455-0132-4
|d р.0.40
|
| 100 |
|
|
|a 20110826d1989 |||y0rusy02 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a a j 000#y
|
| 200 |
1 |
|
|a Методы измерения основных параметров полупроводников
|e [Учеб. пособие для вузов по спец. "Физика и технология материалов и компонентов электрон. техники"]
|f С. И. Рембеза
|
| 210 |
|
|
|a Воронеж
|c Издательство Воронежского университета
|d 1989
|
| 215 |
|
|
|a 221, [1]с.
|c ил.
|d 21 см
|
| 225 |
2 |
|
|a Микроэлектроника
|
| 320 |
|
|
|a Библиогр.: с. 221-222 (22 назв.)
|
| 606 |
|
|
|a Полупроводники
|x Параметры
|x Измерение
|
| 686 |
|
|
|a 22.379.2
|2 rubbk
|
| 686 |
|
|
|a 29
|2 rugasnti
|
| 700 |
|
1 |
|a Рембеза
|b С. И.
|g Станислав Иванович
|
| 801 |
|
0 |
|b ГПНТБ России
|a RU
|c 20110826
|
