Измерение толщины тонких пленок и покрытий сост. Александров А. А., Свиридов В. В.

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Александров А. А.
Другие авторы: Свиридов В. В.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Москва ЦНИИ техн.-экон. исслед. и науч. информ. 1966
Рубрика:
Ключевые слова:

Недоступно

Подробно о фондах из Недоступно
Шифр: Временно недоступно
Копировать 1 Доступно