Значок книги

Измерение толщины тонких пленок и покрытий сост. Александров А. А., Свиридов В. В.

Сохранить в:

Библиографические подробности
Автор:	Александров А. А.
Другие авторы:	Свиридов В. В.
Тип документа:	Книга
Язык:	Russian
Год издания:	Москва ЦНИИ техн.-экон. исслед. и науч. информ. 1966
Рубрика:	Измерение толщины
Ключевые слова:	Пленки тонкие Измерение толщины Покрытия Измерение толщины

Схожие документы

Оптический интерференционный метод определения показателя преломления и толщины пленок
Автор: Крылов П. Н.
Год издания: (2011)

Эллипсометрия тонких пленок
Автор: Федотова И. В.
Год издания: (1996)

Коагуляция и динамика тонких пленок
Автор: Духин С. С.
Год издания: (1986)

Технология и оборудование для нанесения тонких пленок
Автор: Березин М. И.
Год издания: (1972)

Технология тонких пленок
Автор: Ветошкин В. М.
Год издания: (2013)

Эпитаксия тонких пленок Германия и Кремния из атомных и молекулярных пучков
Автор: Александров Л. Н.
Год издания: (1974)

Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок
Автор: Васичев Б. Н.
Год издания: (1977)

Контроль толщины покрытий и его метрологическое обеспечение
Год издания: (1979)

Вакуумное нанесение тонких пленок
Автор: Данилин Б. С.
Год издания: (1967)

Теория устойчивости коллоидов и тонких пленок
Автор: Дерягин Б. В.
Год издания: (1986)

Неразрушающий контроль параметров тонких проводящих пленок электромагнитными методами
Автор: Гаврилин В. В.
Год издания: (1991)

Рентгенодифракционные исследования нанокомпозитных тонких пленок. Программные методы
Год издания: (2009)

Химия и технология неорганических пленок
Автор: Борисенко А. И.
Год издания: (1973)

Введение в эллипсометрию наноразмерных пленок
Автор: Алалыкин А. С.
Год издания: (2011)

Структурные превращения в тонких пленках
Автор: Иевлев В. М.
Год издания: (1988)

Структурные превращения в тонких пленках
Автор: Иевлев В. М.
Год издания: (1982)

Приборы и методы контроля толщины покрытий
Автор: Валитов А. М.-З.
Год издания: (1970)

Массоперенос в тонких пленках
Автор: Колешко В. М.
Год издания: (1980)

Адгезия пленок и покрытий
Автор: Зимон А. Д.
Год издания: (1977)

Применение тонких поглощающих пленок в измерительной технике СВЧ
Автор: Архангельский Ю. С.
Год издания: (1975)

Измерение напряжений и деформаций
Год издания: (1961)

Измерение ускорений
Автор: Гик Л. Д.
Год издания: (1966)

Двумерная диффузия в многослойных тонкопленочных структурах
Автор: Сысоев Г. И.
Год издания: (1993)

Материалы II всесоюзного межотраслевого совещания "Тонкие пленки в электронике"
Год издания: (1991)

Эпитаксиальные пленки соединений AII ВVI
Автор: Калинкин И. П.
Год издания: (1978)

Основы анализа поверхности и тонких пленок
Автор: Фелдман Л.
Год издания: (1989)

Масса и ее измерение
Автор: Завельский Ф. С.
Год издания: (1974)

Кристаллизация тонких пленок
Год издания: (1970)

Измерение температур в технике
Автор: Линевег Ф.
Год издания: (1980)

Вакуумное нанесение пленок в квазизамкнутом объеме
Год издания: (1975)

Измерение нестационарных температур и тепловых потоков
Год издания: (1966)

Измерение и воспроизведение коротких интервалов времени
Автор: Винников Е. М.
Год издания: (1963)

Применение низкотемпературной плазмы для нанесения тонких пленок
Автор: Данилин Б. С.
Год издания: (1989)

Измерение отрезков
Автор: Дубнов Я. С.
Год издания: (1962)

Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок
Автор: Еловиков С. С.
Год издания: (1992)

Измерение твердости металлов
Автор: Варнелло В. В.
Год издания: (1965)

Измерение импульсных напряжений
Автор: Грязнов М. И.
Год издания: (1969)

Измерение атмосферного давления
Автор: Карпуша В. Е.
Год издания: (1973)

Измерение параметров импульсов
Автор: Грязнов М. И.
Год издания: (1991)

Измерение импульсных напряжений
Автор: Заболотских В. Г.
Год издания: (1967)