Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках Л. Н. Александров, М. И. Зотов ; отв. ред. Л. С. Смирнов

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Александров Л. Н.
Другие авторы: Зотов М. И.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Новосибирск Наука, Сибирское отделение 1979
Рубрика:
Ключевые слова:
LEADER 01395nam0a2200301 i 4500
001 A576D5AE-49E2-445B-A2A1-45A6D75830AE
010 |d р.1.00 
100 |a 20120306d1979 m y0rusy02  
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a ||||000zy 
200 1 |a Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках  |f Л. Н. Александров, М. И. Зотов ; отв. ред. Л. С. Смирнов  |g АН СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников 
210 |a Новосибирск  |c Наука, Сибирское отделение  |d 1979 
215 |a 159с.  |c ил.  |d 21 см 
320 |a Библиогр.: с. 149-158 (188 назв.) 
606 |a Полупроводники  |x Трение внутреннее 
606 |a Полупроводники  |x Дефекты 
686 |a 22  |2 rubbk 
686 |a 29  |2 rugasnti 
700 1 |a Александров  |b Л. Н.  |g Леонид Наумович 
701 1 |a Зотов  |b М. И.  |g Михаил Иванович 
702 1 |a Смирнов  |b Л. С.  |4 340 
711 0 2 |a Институт физики полупроводников  |c (Новосибирск) 
712 0 2 |a Институт физики полупроводников  |c (Новосибирск) 
801 0 |b ГПНТБ России  |a RU  |c 20120306