Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках Л. Н. Александров, М. И. Зотов ; отв. ред. Л. С. Смирнов

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Александров Л. Н.
Другие авторы: Зотов М. И.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Новосибирск Наука, Сибирское отделение 1979
Рубрика:
Ключевые слова:

Схожие документы