Контроль в технологии микроэлектроники В. М. Колешко, П. П. Гойденко, Л. Д. Буйко
Сохранить в:
Автор: | Колешко В. М. |
---|---|
Другие авторы: | Гойденко П. П., Буйко Л. Д. |
Тип документа: | Книга |
Язык: | Russian |
Год издания: |
Минск Наука и техника 1979
|
Рубрика: | |
Ключевые слова: |
Схожие документы
-
Автоматизированный тестовой контроль производства БИС
Год издания: (1992) -
Тестовый контроль микропроцессорных БИС на производстве
Год издания: (1989) -
Методы повышения параметров БИС
Автор: Деркач В. П.
Год издания: (1986) -
Контроль технологии гибридных интегральных схем
Автор: Готра З. Ю.
Год издания: (1981) -
Логические ИС
Год издания: (1993)