Пропуск в контексте
Toggle navigation
Eдиный поиск по ресурсам
Оставить отзыв
Профиль
Выход
Логин
Язык
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
НЭБ УР
Интернет-проекты
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
ISBN/ISSN
Ключевые слова
Fulltext
Найти
Расширенный поиск
Доменная электрическая неустой...
Описание
Цитировать
Отправить на Email
Добавить в Избранное
Заказать по ЭДД
Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках В. Л. Бонч-Бруевич, И. П. Звягин, А. Г. Миронов
Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор:
Бонч-Бруевич В. Л.
Другие авторы:
Звягин А. П.
,
Миронов А. Г.
Тип документа:
Книга
Язык:
Russian
Год издания:
Москва Наука 1972
Рубрика:
Электрические свойства
Ключевые слова:
Полупроводники Электрические свойства
Фонды
Описание
Комментарии
Схожие документы
Marc-запись
Недоступно описание.
Схожие документы
Инжекционно-контактные явления в полупроводниках
Автор: Зюганов А. Н.
Год издания: (1981)
Рассеяние носителей тока в металлах и полупроводниках
Автор: Гантмахер В. Ф.
Год издания: (1984)
Электронное переключение в аморфных полупроводниках
Автор: Костылев С. А.
Год издания: (1978)
Взаимодействие экситонов в полупроводниках
Год издания: (1974)
Когерентные поляритоны в полупроводниках
Автор: Шмиглюк М. И.
Год издания: (1989)
×
Загрузка...