Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках В. Л. Бонч-Бруевич, И. П. Звягин, А. Г. Миронов

Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор: Бонч-Бруевич В. Л.
Другие авторы: Звягин А. П., Миронов А. Г.
Тип документа: Книга
Язык:Russian
Год издания: Москва Наука 1972
Рубрика:
Ключевые слова:
LEADER 01192nam0a2200277 i 4500
001 CE376DD8-A1AD-4CDF-AA8A-73C55DC7B590
010 |d р.1.86 
100 |a 20121112d1972 |||y0rusy02 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a ||||000zy 
200 1 |a Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках  |f В. Л. Бонч-Бруевич, И. П. Звягин, А. Г. Миронов 
210 |a Москва  |c Наука  |d 1972 
215 |a 414с.  |c ил.  |d 20 см 
225 2 |a Физика полупроводников и полупроводниковых приборов 
320 |a Библиогр.: с. 399-412. - Предм. указ.: с. 413-414 
606 |a Полупроводники  |x Электрические свойства 
686 |a 22  |2 rubbk 
686 |a 29.19  |2 rugasnti 
700 1 |a Бонч-Бруевич  |b В. Л.  |g Виктор Леопольдович 
701 1 |a Звягин  |b А. П.  |g Игорь Петрович 
701 1 |a Миронов  |b А. Г.  |g Александр Григорьевич 
801 0 |b ГПНТБ России  |a RU  |c 20121112