Пропуск в контексте
Toggle navigation
Eдиный поиск по ресурсам
Оставить отзыв
Профиль
Выход
Логин
Язык
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
НЭБ УР
Интернет-проекты
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
ISBN/ISSN
Ключевые слова
Fulltext
Найти
Расширенный поиск
Электронно-зондовый микроанали...
Фонды
Цитировать
Отправить на Email
Добавить в Избранное
Заказать по ЭДД
Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок Б. Н. Васичев
Сохранить в:
Библиографические подробности
Автор:
Васичев Б. Н.
Тип документа:
Книга
Язык:
Russian
Год издания:
Москва Металлургия 1977
Рубрика:
Рентгеноспектральный анализ
Ключевые слова:
Пленки тонкие Рентгеноспектральный анализ
Фонды
Описание
Комментарии
Схожие документы
Marc-запись
Недоступно
Подробно о фондах из Недоступно
Шифр:
Временно недоступно
Копировать 1
Доступно
Схожие документы
Эллипсометрия тонких пленок
Автор: Федотова И. В.
Год издания: (1996)
Коагуляция и динамика тонких пленок
Автор: Духин С. С.
Год издания: (1986)
Технология и оборудование для нанесения тонких пленок
Автор: Березин М. И.
Год издания: (1972)
Технология тонких пленок
Автор: Ветошкин В. М.
Год издания: (2013)
Эпитаксия тонких пленок Германия и Кремния из атомных и молекулярных пучков
Автор: Александров Л. Н.
Год издания: (1974)
×
Загрузка...